参加ご希望の方は、SIGMODホームページにて
( http://www.sigmodj.is.uec.ac.jp/)
会員登録の後(会費無料、すでに登録されている方は結構です)、
sigmodj_lecture@tkl.iis.u-tokyo.ac.jpに
申込書をお送り下さい。
喜連川(東大、SIGMOD-J Chair)
連絡先 ACM SIGMOD日本支部
sigmodj_lecture@tkl.iis.u-tokyo.ac.jp
http://www.sigmodj.is.uec.ac.jp/
<------------------------------------
To: sigmodj_lecture@tkl.iis.u-tokyo.ac.jp
ACM SIGMODJ 3月27日講演会 参加申し込み用紙
お名前:
ご所属:
(学生の方は研究室名もご記入下さい)
e-mail:
<------------------------------------
☆講演会 ====================================================
タイトル:Multi-Representation: Modeling Issues
Personalization and Multirepresentation
講演者: Prof. Stefano Spaccapietra(EPFL)
日時: 3月27日 午後5時30分 - 6時30分
場所 東京大学生産技術研究所(駒場キャンパス__
E棟/西側/5階会議室C (Ew-503)
TEL 03(5452)6254/6256
http://www.iis.u-tokyo.ac.jp/map/index.html
小田急線 東北沢(一番近いです)から7分
小田急線 代々木上原から12分
井の頭線 東大駒場前から10分
東大駒場駅からいらっしゃる方は東門からお入り下さい。
参加費用 無料
------------------------------------------------------
Multi-Representation: Modeling Issues
Personalization and Multirepresentation
Prof. Stefano Spaccapietra(EPFL)
Abstract
Multi-Representation: Modeling Issues
Web success has put a new emphasis on data personalization (or
customization) services. These have been a constant
concern for database research, with solutions spanning over very
different approaches, such as views, roles, and multiscale
geographic databases. This talk presents a generic approach to
personalization, allowing every individual data modeling
requirement to be met through a specific representation of the data. The
challenge for the data model and for the DBMS is
to provide full support for multiple representations of the same real
world data. This is beyond current capabilities. We
propose a simple stamping technique to differentiate among multiple
representations of a given phenomenon. Then we
analyze alternatives to model multiple representations. Finally we focus
on consequences of multiple coexisting
representations on data modeling and data manipulation. Our proposal has
been tested and validated with users, and
implemented as a front-end to existing DBMS and GIS.
-------------------